菲希爾XDLM237 X射線測厚儀

Name: 菲希爾XDLM237 X射線測厚儀
Brand: Helmut Fischer/德國菲希爾
Availability: InStock

簡要描述：

菲希爾XDLM237 X射線測厚儀，菲希爾臺式測厚儀，FISCHER代理，Fischer X射線測厚儀

更新時間：2024-10-16

訪問量：1259

廠商性質：經銷商

生產地址：

在線詢價聯系我們

產品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產地類別	進口	應用領域	環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

菲希爾XDLM237 X射線測厚儀

　　德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

　　菲希爾X射線測厚儀XDLM237應用實例：

　　XDLM測量系統(tǒng)經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結構如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。

上一篇：三豐粗糙度儀代理SJ-210
下一篇：菲希爾代理FISCHER FMP40測厚儀

菲希爾XDLM237 X射線測厚儀

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：