更新時(shí)間:2026-03-30
訪問(wèn)量:133
廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址:
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾XDLM237 X射線測(cè)厚儀代理
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237核心定位與特點(diǎn)
全自動(dòng)測(cè)量:搭載可編程電動(dòng) XY+Z 軸樣品臺(tái),支持批量零件自動(dòng)掃描與多點(diǎn)測(cè)量。
微聚焦高精度:最小光斑直徑 0.1 mm,專(zhuān)為微小精密零件(如連接器、引腳)設(shè)計(jì)。
自上而下測(cè)量:適合曲面、異形件,不受樣品平整度限制。
大樣品兼容:機(jī)身帶 C 型開(kāi)槽,可測(cè)量超大面積 PCB 等扁平工件。
符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):測(cè)量符合 DIN ISO 3497 與 ASTM B 568。
詳細(xì)技術(shù)參數(shù)
1. 核心系統(tǒng)
X 射線源:微聚焦鎢靶射線管,三檔高壓(10 / 30 / 50 kV)
探測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管(Proportional Counter)
測(cè)量元素:鋁 (Al, 13) — 鈾 (U, 92),可同時(shí)分析 ≤24 種元素
測(cè)量模式:?jiǎn)螌?/ 多層鍍層厚度、合金成分、有害物質(zhì)(RoHS)篩查
2. 光學(xué)與定位
準(zhǔn)直器(4 種):0.1 mm / 0.3 mm / 0.6 mm / 0.5×0.15 mm 狹縫
濾光片(3 種):鎳 (Ni) / 鋁 (Al) / 無(wú)濾光
定位系統(tǒng):CCD 彩色攝像頭(40–160 倍變焦)+ 激光定位 + LED 照明
距離補(bǔ)償: DCM 技術(shù),自動(dòng)補(bǔ)償樣品高度差異
3. 樣品臺(tái)(XDLM 237)
XY 行程:255 × 235 mm
Z 軸行程:140 mm
移動(dòng)速度:≤ 80 mm/s
重復(fù)精度:XY ≤ 0.01 mm
樣品高度: 140 mm
承重:標(biāo)準(zhǔn) 5 kg / 20 kg(精度降低)
4. 物理規(guī)格
尺寸:570 × 760 × 650 mm (W×D×H)
重量:約 120 kg
電源:115/230 V, 50/60 Hz
功耗: 120 W
蘇公網(wǎng)安備32021402002648